Come vengono accertati / valutati i reclami di durata molto lunga dei componenti?


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È una specifica comune per i dispositivi domestici come le lampadine. Tuttavia, non riesco a capire come valuteresti / dimostrerai davvero tale richiesta senza eseguire il dispositivo per il periodo di tempo specificato.

Considera una lampadina che si dice abbia una durata di 9000 ore. Se dovessi provare questo, l'unico modo in cui posso pensare di misurarlo veramente è quello di far funzionare la lampadina per 9000 ore, che è di circa un anno!

Se un anno non è abbastanza lungo, considera alcune lampadine a LED con una valutazione di 50.000 ore!

Chiaramente non è possibile eseguire un test per così tanto tempo. Quindi immagino di chiedere; su quale base vengono fatte queste affermazioni?

Forse un modo per testarlo è sollecitare il componente in condizioni operative più alte del normale, in modo che si esaurisca più velocemente e quindi in qualche modo crei una previsione basata su misurazioni. O forse far funzionare il componente per un po '(breve) tempo e misurare il deterioramento / invecchiamento e usarlo per creare una previsione.


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E se QUESTO non è abbastanza, considera la conservazione dei dati di 100 anni richiesta per EEPROM .
Vorac,

Risposte:


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Uno dei metodi è, probabilmente come hai previsto, quello dell'invecchiamento accelerato . Viene utilizzato quando la durata di un prodotto è tale da rendere impraticabile eseguire un normale test di durata (come i LED, che hanno MTBF di oltre 100.000 ore). Qui, si sottolinea l'elemento di test oltre ciò che riceverà mai "sul campo" per ottenere una durata ridotta, da cui è possibile estrapolare i dati.

Una considerazione importante nell'uso dell'invecchiamento accelerato è l'effetto non lineare del funzionamento al di fuori dell'intervallo operativo raccomandato di una parte. Questo può essere illustrato con sistemi meccanici, come far funzionare un cambio a 45.000 giri / min invece di 15.000, ed estrapolare i dati di tre. Tuttavia, supponiamo che stai testando la tua lampadina. Il buon senso direbbe che eseguendolo al doppio della corrente lo farebbe funzionare la metà del tempo; tuttavia a causa di quegli effetti non lineari potresti scoprire che la durata è solo 1/4 di quella alla corrente corretta a causa dello stress aggiuntivo dell'overrating. Una considerazione importante è che il dispositivo / soggetto / oggetto del test deve essere ben caratterizzato nel comportamento previsto e non previsto dell'intervallo operativo prima di eseguire il test.

Per questo motivo ci sono un numero qualsiasi di studi ( MOLTO di loro) sui vari perfezionamenti ai test di invecchiamento accelerato in vari campi. I LED mi vengono in mente; il fotovoltaico è un altro .


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Come hai intuito, la valutazione a vita in genere comporta test in condizioni operative più severe di quanto consentito dalle specifiche. I modelli matematici - che possono essere empirici o teoricamente derivati ​​- vengono quindi utilizzati per mappare il tempo testato al fallimento a un insieme pratico di condizioni. Nei dispositivi a semiconduttore, una nota "legge" è l'equazione di Black e la tecnica generale si chiama test HTOL . Come puoi immaginare, può essere difficile stabilire la validità dei test accelerati e alcuni ingegneri consigliano di prendere i numeri risultanti con un granello di sale. Nel settore dei semiconduttori, molti standard sono stati creati e continuano a svilupparsi.


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Penso che tu abbia sostanzialmente risposto alla tua domanda. A seconda della tecnologia, i casi di test e i protocolli per stimare il tempo di vita variano ovviamente, ma nel complesso misurano il degrado fino a una certa percentuale e stimano il tempo di vita totale in base ai protocolli specifici di tale tecnologia. Ho trovato questo per quanto riguarda le stime sul tempo di vita dei LED che hai menzionato: http://apps1.eere.energy.gov/buildings/publications/pdfs/ssl/lifetime_white_leds.pdf Spero che questo aiuti.


Un riassunto / estratto del collegamento sarebbe una buona idea nel caso in cui cada domani :)
ThreePhaseEel
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